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PROCÉDÉ DE CAPTURE D'IMAGE DE PHASE ET DISPOSITIF DE CAPTURE D'IMAGE DE PHASE L'UTILISANT
专利权人:
UNIVERSITY OF TSUKUBA;国立大学法人筑波大学
发明人:
KUDO Hiroyuki,工藤博幸,LIAN Songzhe,廉松哲
申请号:
JPJP2019/023266
公开号:
WO2019/240165A1
申请日:
2019.06.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
[Problem] To provide a phase image capturing method and device with which the phase of a subject can be acquired with high spatial resolution by being captured at least once, without requiring an improvement of an existing device. [Solution] This phase image capturing method involves emitting quantum beams from a beam source onto a detector via a subject and at least one sheet of a phase lattice, and obtaining a phase image of the subject from the intensity distributions of the beams at respective pixels constituting the detector. The intensity distributions of the beams include information about absorbance (a0), visibility (V), and phase (φ), and the absorbance (a0), visibility (V), and phase (φ) are obtained from at least one measurement image by assuming that the absorbance (a0), visibility (V), and phase (φ) of at least three adjacent pixels are almost the same on the basis of variable approximation of the image.La présente invention a pour objet de fournir un procédé et un dispositif de capture d'image de phase permettant d'acquérir la phase d'un sujet avec une résolution spatiale élevée par le biais d'au moins une capture, sans nécessiter une amélioration d'un dispositif existant. À cet effet, l'invention porte sur un procédé de capture d'image de phase qui consiste à émettre des faisceaux quantiques à partir d'une source de faisceau sur un détecteur par l'intermédiaire d'un sujet et d'au moins une feuille d'un réseau de phase, et à obtenir une image de phase du sujet à partir des distributions d'intensité des faisceaux au niveau de pixels respectifs constituant le détecteur. Les distributions d'intensité des faisceaux comprennent des informations concernant l'absorbance (a0), la visibilité (V) et la phase (φ), et l'absorbance (a0), la visibilité (V) et la phase (φ) sont obtenues à partir d'au moins une image de mesure en supposant que l'absorbance (a0), la visibilité (V) et la phase (φ) d'au moins trois pixels adjacents sont pratiquement les mêmes sur la base
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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