PROBLEM TO BE SOLVED: To detect accurately a defective pixel resulting from lattice strain.SOLUTION: In an X-ray photographing system for acquiring a phase contrast image of an analyte H from a plurality of stripe images obtained by changing a relative position between a first absorption type lattice and a second absorption type lattice, a defective pixel detection part detects a defective pixel based on a mean value and an amplitude value of an intensity modulation signal obtained for each pixel, on the basis of the plurality of stripe images obtained by an FPD. Further, the defective pixel detection part detects a defective pixel based on a dark image obtained by the FPD in a non-irradiation state of an X-ray source.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】格子歪みに起因した欠陥画素を精度良く検出することを可能とする。【解決手段】第1の吸収型格子と第2の吸収型格子との相対位置を変更することにより得られる複数の縞画像から被検体Hの位相コントラスト画像を取得するX線撮影システムにおいて、欠陥画素検出部は、FPDにより取得される複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の平均値及び振幅値に基づいて欠陥画素を検出する。また、欠陥画素検出部は、X線源が非照射の状態でFPDにより取得されるダーク画像に基づいて欠陥画素を検出する。【選択図】図8
