Various methods and apparatus are described for reducing signal artifacts resulting from reflections from the surface of the object. In one method, a similar paths algorithm is used to create a calibration signal to reduce signal artefacts. In another method, an equivalent location algorithm is used to create calibration data to reduce signal artefacts, in another method, blocking screens are positioned in contact with, or closely adjacent to, the surface. In another method, an anti-reflective layer is employed. The methods may be employed singly or jointly in a breast tumour imaging device.L'invention concerne divers procédés et appareils permettant de réduire les artefacts de signaux issus de réflexions de la surface d'un objet. Dans un procédé, un algorithme de chemins similaire est utilisé pour créer un signal d'étalonnage, aux fins de réduction des artefacts de signaux. Dans un autre procédé, un algorithme d'emplacement équivalent est utilisé pour créer des données d'étalonnage, aux fins de réduction des artefacts de signaux. Encore dans un autre procédé, des écrans de blocage sont positionnés en contact avec la surface ou de manière adjacente à celle-ci. Dans un autre procédé, une couche anti-réfléchissante est mise en oeuvre. Les procédés peuvent être utilisés seuls ou de manière associée dans un dispositif d'imagerie du tumeur du sein.
