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METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CAPACITANCE OF MULTI-CHANNEL ULTRASONIC PROBE
专利权人:
DONGGUK UNIVERSITY GYEONGJU CAMPUS INDUSTRY-ACADEMY COOPERATION FOUNDATION
发明人:
KANG, BUB JOO,강법주,KIM, YANG SU,김양수,KANG, BUB JOOKR,KIM, YANG SUKR
申请号:
KR1020140112410
公开号:
KR1015480830000B1
申请日:
2014.08.27
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
The present invention relates to a method for measuring a capacitance of a multi-channel ultrasonic probe and an apparatus thereof. According to the present invention, the method for measuring capacitance of the multi-channel ultrasonic probe uses the capacitance measurement apparatus of the multi-channel ultrasonic probe, and includes the steps of: measuring a voltage value corresponding to a capacitance value of the channel per each channel of the ultrasonic probe; converting the measured voltage value into a digital voltage value; and estimating the capacitance value of the channel by substituting the converted digital voltage value to a voltage-capacitance conversion function defining a linear relationship between two variables corresponding to the digital voltage and the capacitance. According to the method for measuring the capacitance of the multi-channel ultrasonic probe and the apparatus thereof, it is easy to measure capacitance, and is possible to simplify circuit configuration and to achieve compactness, according as the voltage corresponding to the capacitance of the channel is converted into the digital voltage and then the converted digital voltage value is substituted to the voltage-capacitance conversion function in order to measure the capacitance.본 발명은 다중채널 초음파 프로브의 커패시턴스 측정 방법 및 그 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 다중채널 초음파 프로브의 커패시턴스 측정 장치를 이용한 다중채널 초음파 프로브의 커패시턴스 측정 방법에 있어서, 상기 초음파 프로브의 각 채널 별로 상기 채널이 가지는 커패시턴스 값에 대응하는 전압 값을 측정하는 단계와, 상기 측정된 전압 값을 디지털 전압 값으로 변환하는 단계, 및 디지털 전압과 커패시턴스에 해당하는 두 변수 간의 선형 관계를 정의하는 전압-커패시턴스 변환 함수 상에 상기 변환된 디지털 전압 값을 대입하여 상기 채널이 가지는 커패시턴스 값을 추정하는 단계를 포함하는 다중채널 초음파 프로브의 커패시턴스 측정 방법을 제공한다.상기 다중채널 초음파 프로브의 커패시턴스 측정 방법 및 그 장치에 따르면, 채널이 가지는 커패시턴스에 대응하는 전압을 디지털 전압으로 변환한 다음 이를 전압-커패시턴스 변환 함수에 대입하여 측정하는 방식으로 구현됨에 따라, 커패시턴스 측정이 용이할 뿐만 아니라 회로 구성을 간소화 및 소형화할 수 있는 이점이 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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