基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法
- 专利权人:
- 哈尔滨工业大学
- 发明人:
- 张彪,齐宏,贾腾,阮立明,谈和平
- 申请号：
- CN201410418533.1
- 公开号：
- CN104181128B
- 申请日:
- 2014.08.22
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 张宏威
- 摘要：
- 基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性，稳定性同比提高了20％，可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术，单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
