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非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法
- 专利权人:
- 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 发明人:
- 张霖,任寰,杨一,马骅,陈波,石振东,李东,刘勇,原泉,杨晓瑜,柴立群,刘旭,巴荣生,郑垠波,周信达
- 申请号：
- CN201510532249.1
- 公开号：
- CN105092477A
- 申请日:
- 2015.08.26
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 杨保刚`赵宇
- 摘要：
- 本发明公开了一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法，属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中非线性光子学材料的光学非线性测量装置和测量方法。本申请采用Tophat型激光脉冲作为探测光，根据待测样品厚度选择适当厚度的参考标准样品，分别对参考标准样品和待测样品进行Z扫描测量，调节入射光能量得到相同的归一化透过率峰谷值，再通过数据处理得到待测样品的非线性折射系数。本申请可适用于厚度超过瑞利长度的非线性光子学材料的光学非线性测量装置和测量方法。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
