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ナノ粒子組成分析選別装置及びナノ粒子組成分析選別方法
专利权人:
国立大学法人東京工業大学
发明人:
相川 清隆
申请号:
JP20150203446
公开号:
JP2017075857(A)
申请日:
2015.10.15
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
【課題】ナノ粒子を非破壊で結晶構造及び化学結合を含む組成の分析を行なうことができ、また、ナノ粒子を組成毎に選別すること。【解決手段】ナノ粒子組成分析選別装置10を、ナノ粒子41が取り込まれ、内部が真空ポンプ12で真空状態とされる透明な窓を有する真空槽11と、真空槽11内に取り込まれたナノ粒子41を捕捉するレーザ光15aを出射する第1レーザ光源15と、レーザ光15aによりナノ粒子41の捕捉後、真空槽11が真空状態の場合に、当該ナノ粒子41を捕捉中のレーザ光15aの光位相のずれに応じた光強度の変化を光強度周波数として検出する光検出器19とを有する。更に、複数の光強度周波数と種々のナノ粒子41の組成とを対応付けたマップを有し、光検出器19で検出された光強度周波数を当該マップに当て
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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