The methods and systems described herein provide a novel approach for detecting and/or predicting an epileptic event in a subject with or without performing an EEG on the subject. Methods of identifying and treating epilepsy in a subject are also provided herein. A broad regression analysis using a lower order statistical analysis and/or a higher order statistical analysis of one or more oculometric parameters in a time series can be used to determine that the distribution of an oculometric parameter over time and/or the related dependencies of frequencies of two or more oculometric parameters over time correlate with an epileptic event. The methods and systems described herein may also be applied to one or more facial biometrics of the subject.Les méthodes et les systèmes de l'invention présentent une nouvelle approche pour détecter et/ou prédire un événement épileptique chez un sujet avec ou sans exécution d'un EEG sur le sujet. L'invention concerne également des méthodes d'identification et de traitement de l'épilepsie chez un sujet. Une analyse de régression large faisant appel à une analyse statistique d'ordre inférieur et/ou une analyse statistique d'ordre supérieur d'un ou de plusieurs paramètres oculométriques dans une série chronologique peut être utilisée pour déterminer que la distribution d'un paramètre oculométrique dans le temps et/ou les dépendances associées de fréquences d'au moins deux paramètres oculométriques dans le temps sont en corrélation avec un événement épileptique. Les méthodes et les systèmes de l'invention peuvent également s'appliquer à une ou plusieurs biométries faciales du sujet.
