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超音波診断システム
专利权人:
HITACHI; LTD.
发明人:
UNO, Takaya,宇野 隆也
申请号:
JPJP2016/065409
公开号:
WO2016/190337A1
申请日:
2016.05.25
申请国别(地区):
WO
年份:
2016
代理人:
摘要:
Basic items (site to be diagnosed and examination method), the body type of the subject, and the probe to be used are selected as examination criteria on an examination criteria setting screen. On the basis of the selected examination criteria, a standard set of settings conforming to the examination criteria is selected from a group of standard sets. The standard set is optimized by modifying parts of the selected standard set. System operation criteria are determined on the basis of the optimized set.Des éléments de base (site à diagnostiquer et méthode dexamen), le type de corps du sujet, et la sonde à utiliser sont sélectionnés en tant que critères dexamen sur un écran de paramétrage de critères dexamen. Sur la base des critères dexamen sélectionnés, un ensemble standard de paramètres se conformant aux critères dexamen est choisi dans un groupe densembles standards. Lensemble standard est optimisé par modification de parties de lensemble standard sélectionné. Des critères de fonctionnement du système sont déterminés sur la base de lensemble optimisé.検査条件設定画面上において、検査条件として、基本事項(診断部位及び検査方法)、被検体の体型、及び、使用プローブが選択される。選択された検査条件に基づいて、標準セット群の中から、当該検査条件に適合する標準セットが選択される。選択された標準セットの一部を修正することにより、その標準セットが最適化される。最適化セットに基づいてシステム動作条件が定められる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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