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복수개의 엑스레이의 초점을 획득하기 위한 방법 및 장치
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
LEE, Jae-sung,이재성,KIM, Ki-yeo,김기여,LEE, Ja-woo,이자우,CHO, Min-kook,조민국,CHOI, Byung-sun,최병선
申请号:
KRKR2012/010996
公开号:
WO2013/094946A1
申请日:
2012.12.17
申请国别(地区):
WO
年份:
2013
代理人:
摘要:
Disclosed is a method for acquiring a plurality of X-ray focuses in which an electron beam is applied from a cathode of a magnetic field generation device to a movable anode, and an X-ray that is generated from the anode by the electron beam which is applied to a target object. Here, the anode comprises an inclined surface, and part of the inclined surface may protrude. The plurality of focuses with respect to the X-ray can be acquired based on the electron beam that is applied and the inclined surface.La présente invention concerne un procédé dacquisition dune pluralité de foyers de rayons X dans le cadre duquel un faisceau délectrons est émis depuis une cathode dun dispositif de génération dun champ magnétique et en direction dune anode mobile, et un rayon X généré depuis lanode par le faisceau délectrons est émis en direction dun objet cible. Ici, lanode comprend une surface inclinée et une partie de ladite surface inclinée peut faire saillie. La pluralité de foyers associés aux rayons X peut être acquise grâce au faisceau délectrons émis et à la surface inclinée.자기장 생성 장치의 캐소드로부터 이동 가능한 애노드를 향하여 전자 빔을 조사하고, 조사된 전자 빔에 의하여 애노드로부터 생성되는 엑스레이를 대상체로 조사하는 복수개의 엑스레이의 초점을 획득하기 위한 방법이 개시된다. 여기서, 애노드는 경사면을 포함하고 경사면의 일부가 돌출될 수 있으며, 조사되는 전자 빔과 경사면에 기초하여 엑스레이에 대한 복수의 초점이 획득될 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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