您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR MESURER ET CARACTÉRISER DES SURFACES INTÉRIEURES DE STRUCTURES LUMINALES
专利权人:
VS Medtech; Inc.
发明人:
申请号:
EP14791528.4
公开号:
EP2991549A1
申请日:
2014.05.02
申请国别(地区):
EP
年份:
2016
代理人:
摘要:
A digital topographic model of the luminal surface is generated by projecting an optical pattern on the luminal surface from the first location within the lumen. At least a portion of the projected pattern is detected from a second location within the lumen which is based apart from the first location. The dimensions of the luminal wall can be measured by triangulation in order to produce the digital topographic model of the body lumen.L'invention concerne un modèle topographique numérique de la surface luminale, ledit modèle étant généré par la projection d'un motif optique sur la surface luminale à partir du premier emplacement dans la lumière. Au moins une partie du motif projeté est détectée à partir d'un second emplacement dans la lumière, qui est éloigné du premier emplacement. Les dimensions de la paroi luminale peuvent être mesurées par triangulation, de façon à générer le modèle topographique numérique de la lumière du corps.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充