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Verfahren zur Planung einer Untersuchung in einer Magnetresonanzanlage und Magnetresonanzanlage hierfür
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Klaus Mayer,Cecile, Dr. Mohr,Mike Müller
申请号:
DE102005031901
公开号:
DE102005031901B4
申请日:
2005.07.07
申请国别(地区):
DE
年份:
2015
代理人:
摘要:
Verfahren zur Planung einer Untersuchung eines Untersuchungsobjekts in einer Magnetresonanzanlage, wobei Bilder von unterschiedlichen Bereichen des Untersuchungsobjekts aufgenommen werden, die zu einem Gesamtbild zusammengesetzt werden, mit den folgenden Schritten:– Bestimmen der Lage zumindest eines ersten Bildes im Untersuchungsobjekt,– Festlegen der Messparameter für dieses zumindest eine erste Bild,– Bestimmen der Lage zumindest eines zweiten Bildes im Untersuchungsobjekt, wobei das zumindest eine erste Bild und das zumindest eine zweite Bild bei unterschiedlichen PosiPositionen eines Tisches aufgenommen werden, auf dem das Untersuchungsobjekt angeordnet ist,– Festlegen der Messparameter für das zumindest eine zweite Bild, und– Bestimmen, durch eine Steuereinheit (16), der Messparameter, die abhängige Messparameter sind, wobei bei diesen abhängigen Messparametern die Messparameter in den Bildern so eingestellt werden, dass sie für alle Bilder identisch sind, wobei die Steuereinheit (16) bei Änderungen eines abhängigen Messparameters bei einem der Bilder, die Änderung dieses abhängigen Messparameters auf das andere Bild überträgt, während die Steuereinheit (16) bei Änderung eines individuellen Messparameters bei einem der Bilder diese Änderung nicht auf das andere Bild überträgt.A method for planning an examination of an object to be examined in a magnetic resonance system, whereby images of different regions of the examination subject to be taken, which are put together to form an overall picture, comprising the steps of:– Determining the position of at least one first image in the examination subject,– Fixing of the measured parameters for this at least one first image,– Determining the position of at least a second image in the examination subject, wherein the at least one first image and the at least one second image in the case of different positions of positions of a table to be received, the object to be examined is arranged on the,– Fixing of the measured
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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