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Probe frame for single-input single-output and multi-input multi-output
专利权人:
Lantiq Deutschland GmbH
发明人:
Kim Joon Bae,Sandberg Stuart
申请号:
US201214131777
公开号:
US9762705(B2)
申请日:
2012.07.13
申请国别(地区):
美国
年份:
2017
代理人:
Eschweiler & Potashnik, LLC
摘要:
Described herein are implementations related to the generation of probe frames. In one implementation, a generated probe frame includes two symbols, where the two symbols are different. In one implementation, a first of the two symbols is a probe symbol and a second of the two symbols is a quiet symbol.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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