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雙層檢測試片
专利权人:
XSENSE TECHNOLOGY CORPORATION (B.V.I.) TAIWAN BRANCH
发明人:
CHEN, YUAN-DA,陈远达,陳遠達
申请号:
TW105203009
公开号:
TWM528730U
申请日:
2016.03.04
申请国别(地区):
TW
年份:
2016
代理人:
摘要:
The invention is a double-layer detection test piece, which is formed on a substrate by stacking a double-layer metal material to form a pattern layer for conducting signals. The pattern layer includes a palladium layer and a gold layer. Among them, the gold layer can be in the form of A-shaped or A-shaped. The whole system has better accuracy and stability, and the production is more simple and rapid.本創作為一種雙層檢測試片,係在一基板上以堆積雙層的金屬材料而形成一用於傳導訊號之圖案層,該圖案層包括一鈀層與一金層。其中,金層可呈一字型或ㄇ字形。整體具有較佳的精確性與穩定性,生產製作更為簡易迅速。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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