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초음파 진단 장치용 프로브
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
WON, CHANG YEONKR,원창연,KIM, CHANG MINKR,김창민,JANG, SANG DONGKR,장상동,KIM, YOON SEOKKR,김윤석,KIM, JUNG MINKR,김정민
申请号:
KR1020160147635
公开号:
KR1020180050962A
申请日:
2016.11.07
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
The present invention relates to a probe for an ultrasonic diagnostic apparatus having a transducer module for transceiving an ultrasonic wave. According to an embodiment of the present invention, the probe for an ultrasonic diagnostic apparatus comprises: a transducer module having a transducer for transceiving an ultrasonic wave a first case unit arranged in a lower part of the transducer module to support the transducer module a second case unit extended along a circumference unit of the first case unit, and integrally coupled to the first case unit and a thin plate-shaped heat spreader arranged in the lower part of the transducer module and an upper part of the first case.COPYRIGHT KIPO 2018본 발명은 초음파를 송수신하는 트랜스듀서 모듈을 구비하는 초음파 진단 장치용 프로브에 관한 것으로서, 일 실시예에 따른 초음파 진단 장치용 프로브는, 초음파를 송수신하는 트랜스듀서가 구비된 트랜스듀서 모듈, 상기 트랜스듀서 모듈의 하부에 배치되어 상기 트랜스듀서 모듈을 지지하는 제1 케이스부, 상기 제1 케이스부의 둘레부를 따라 연장되며, 상기 제1 케이스부와 일체형으로 결합되는 제2 케이스부, 및 상기 트랜스듀서 모듈의 하부 및 상기 제1 케이스부의 상부에 배치되는 박판 형상의 히트 스프레더를 포함할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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