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半导体X射线检测器
- 专利权人:
- 深圳帧观德芯科技有限公司
- 发明人:
- 曹培炎
- 申请号：
- CN201580077787.4
- 公开号：
- CN108271415B
- 申请日:
- 2015.07.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 用于检测X射线的装置(100)包括:X射线吸收层(110),其包括电极;第一电压比较器(301),其配置成将电极的电压与第一阈值(V1)比较;第二电压比较器(302),其配置成将该电压与第二阈值(V2)比较;计数器(320),其配置成记录X射线吸收层(110)所吸收的X射线光子的数目;控制器(310);该控制器(310)配置成从第一电压比较器(301)确定所述电压的绝对值等于或超出第一阈值(V1)的绝对值的时间启动时间延迟(TD1,TD2),在时间延迟(TD1,TD2)期间启动第二电压比较器(302),如果在时间延迟(TD1,TD2)期间第二电压比较器(302)确定所述电压的绝对值等于或超出第二阈值(V2)的绝对值则促使计数器(320)记录的数目增加一。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
