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X射线成像系统及X射线成像方法
专利权人:
深圳帧观德芯科技有限公司
发明人:
曹培炎,刘雨润
申请号:
CN201680091064.4
公开号:
CN110022770A
申请日:
2016.05.12
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本文公开了适于检测X射线的X射线成像系统(10),包括:第一X射线检测器(30),和第二X射线检测器(40);其中,所述第一X射线检测器(30)被配置成相对于所述第二X射线检测器(40)运动;其中,所述第一X射线检测器(30)的空间解析度高于所述第二X射线检测器(40)的空间解析度;其中,所述第一X射线检测器(30)的检测区域小于所述第二X射线检测器(40)的检测区域。本文还公开了使用所述X射线成像系统(10)的X射线成像的方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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