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用于确定X射线检测器错位的方法
专利权人:
深圳帧观德芯科技有限公司
发明人:
曹培炎,刘雨润
申请号:
CN201680086486.2
公开号:
CN109414231A
申请日:
2016.12.06
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本文公开了一种方法,包括:在第一X射线检测器(110,410,510,610,710,810,1010,1110)和第二X射线检测器(120,420,520,620,720,820,1020,1120)错位时从第一X射线检测器(110,410,510,610,710,810,1010,1110)获得第三图像(410B,510B,610B,710B,820B,921);在第一和第二检测器错位时,基于第一图像(410A,510A,610A,710A,820A,911)与第三图像(410B,510B,610B,710B,820B,921)之间的移位确定第一X射线检测器(110,410,510,610,710,810,1010,1110)与第二X射线检测器(120,420,520,620,720,820,1020,1120)之间的错位;其中第一图像(410A,510A,610A,710A,820A,911)是如果第一和所述第二检测器对准则第一X射线检测器(110,410,510,610,710,810,1010,1110)应捕捉的图像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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