System (10) zur Beobachtung eines räumlich ausgedehnten Beobachtungsbereichs (1) mit großem Aspektverhältnis, umfassend eine Sammeloptik (2) zur Aufnahme von Licht aus dem Beobachtungsbereich (1) und einen Bildsensor (3) mit einem Auswertungsbereich (4), wobei die Sammeloptik (2) dazu ausgebildet ist, das Licht aus dem Beobachtungsbereich (1) auf den Auswertungsbereich (4) des Bildsensors (3) abzubilden, wobei die Sammeloptik (2) dazu ausgebildet ist, Teilbereiche (1a-1d) des Beobachtungsbereichs (1) verkleinert unter Beibehaltung des Aspektverhältnisses auf hierzu korrespondierende Teilbereiche (4a-4d) des Auswertungsbereichs (4) abzubilden. Verfahren zur Herstellung des Systems (10), wobei für das Aufspaltelement (5) ein parametrisierter Ansatz aufgestellt wird und die Parameter mittels Strahlverfolgung dahingehend optimiert werden, dass ein vorgesehener Teilbereich (1a-1d) des Beobachtungsbereichs (1) auf einen vorgesehenen Teilbereich (4a-4d) des Auswertungsbereichs (4) abgebildet wird.The invention relates to a system (10) for observing an extended observation area (1) having a large aspect ratio, comprising a collection optics (2) for receiving light from the observation area (1) and an image sensor (3) having an evaluation area (4). The collection optics (2) is designed to image the light from the observation area (1) onto the evaluation area (4) of the image sensor (3), and the collection optics (2) is designed to image portions (1a-1d) of the observation area (1) on a reduced scale, whilst retaining the aspect ratio, onto corresponding portions (4a-4d) of the evaluation area (4). The invention further relates to a method for producing the system (10), in which a parameterised approach is established for the splitter element (5) and the parameters are optimised by means of ray tracing such that a provided portion (1a-1d) of the observation area (1) is imaged onto a provided portion (4a-4d) of the evaluation area (4).L'invention concerne un système (10) d'obs
