Arrangements and methods are provided for obtaining data associated with a sample. For example, at least one first electro-magnetic radiation can be provided to a sample and at least one second electro-magnetic radiation can be provided to a reference (e.g., a non-reflective reference). A frequency of such radiation(s) can repetitively vary over time with a first characteristic period. In addition, a polarization state of the first electro-magnetic radiation, the second electro¬ magnetic radiation, a third electro-magnetic radiation (associated with the first radiation) or a fourth electro-magnetic radiation (associated with the second radiation) can repetitively vary over time with a second characteristic period which is shorter than the first period. The data for imaging at least one portion of the sample can be provided as a function of the polarization state. In addition or alternatively, the third and fourth electro-magnetic radiations can be combined so as to determine an axial reflectance profile of at least one portion of the sample.La présente invention concerne des dispositifs et des procédés destinés à obtenir des données associées à un échantillon. Par exemple, au moins un premier rayonnement électromagnétique peut être appliqué à un échantillon et au moins un deuxième rayonnement électromagnétique peut être appliqué à une référence (non réfléchissante). Une fréquence de tels rayonnements peut varier itérativement dans le temps avec une première période caractéristique. En outre, un état de polarisation du premier rayonnement électromagnétique, du deuxième rayonnement électromagnétique, dun troisième rayonnement électromagnétique (associé au premier) ou dun quatrième rayonnement électromagnétique (associé au deuxième) peut varier itérativement dans le temps avec une seconde période caractéristique qui est plus courte que la première. Les données dimagerie dau moins une partie de léchantillon peuvent être fournies en fonction de létat de polarisation. De
