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一种测定纳米金表面上巯基修饰线性DNA或核酸适配体构象的方法
- 专利权人:
- 首都师范大学
- 发明人:
- 娄新徽,王文杰,丁小凡
- 申请号：
- CN201410171224.9
- 公开号：
- CN103926176A
- 申请日:
- 2014.04.25
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 王旭
- 摘要：
- 本发明涉及一种测定纳米金表面上巯基修饰线性DNA或核酸适配体构象的方法，是利用动态光散射测定组装过程中线性DNA或核酸适配体与纳米金复合物的水合粒径，结合吸附动力学，分别测定线性DNA或核酸适配体在不同表面包被量时在纳米金表面上的构象。利用本发明的方法发现在中等表面探针容量时，线性DNA在纳米金表面上的构象为连接巯基的一端缠绕在纳米金表面，另一端与表面垂直向外伸展，随着表面探针容量的增加，每条DNA探针缠绕在纳米金表面上的长度不断减小，而同时向外延伸的尾部越来越长，但纳米金表面保持被DNA碱基吸附包裹的低表面自由能状态上述构象可以描述为DILOT模型，对于核酸传感器探针设计和基于DNA杂交的纳米组装等应用具有重要的指导意义。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
