一种低温真空微波辐射源温度均匀性测量与控制系统
- 专利权人:
- 上海卫星装备研究所
- 发明人:
- 徐骏,傅立,刘刚,蓝天翔,谢建华,肖育
- 申请号：
- CN201410740096.5
- 公开号：
- CN104568164A
- 申请日:
- 2014.12.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 郭国中
- 摘要：
- 本发明提供了一种低温真空条件下使用的微波辐射源温度测量与控制系统，包括非接触温度测量单元、二维扫描单元和外围数据采集控制单元和，所述的非接触温度测量单元包括测量单元安装外壳和光路系统，所述光路系统包括消杂光光阑、孔径光阑、平面反射镜、离轴抛物面镜、频率调制器、分光片、光束收集器、MTC探测器、光束收集器和中波红外InSb探测器。本发明具有结构简单、通用性强、测温精度高、能在线实时监测等功能，能够有效提高微波辐射源的辐射精度和均匀性，对航天微波类载荷定标精度的提高具有很大的意义。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
