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X射線成像系統及X射線成像方法
专利权人:
LTD.;SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO.
发明人:
CAO, PEIYAN,曹培炎,LIU, YURUN,刘雨润,劉雨潤
申请号:
TW106140588
公开号:
TW201832728A
申请日:
2017.11.22
申请国别(地区):
TW
年份:
2018
代理人:
摘要:
An X-ray imaging system suitable for detecting x-ray comprises a first X-ray detector and a second X-ray detector. The first X-ray detector is configured to move relative to the second X-ray detector. A spatial resolution of the first X-ray detector is higher than a spatial resolution of the second X-ray detector. A detection area of the first X-ray detector is smaller than a detection area of the second X-ray detector. Also provided is a method of X-ray imaging using the X-ray imaging system.本文公開適於檢測X射線的X射線成像系統,其包括:第一X射線檢測器,和第二X射線檢測器;其中,所述第一X射線檢測器被配置為相對於所述第二X射線檢測器移動;其中,所述第一X射線檢測器的空間解析度高於所述第二X射線檢測器的空間解析度;其中,所述第一X射線檢測器的檢測區域小於所述第二X射線檢測器的檢測區域。本文還描述了使用所述X射線成像系統的X射線成像的方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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