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一种时域OCT测量的方法和时域OCT系统
- 专利权人:
- 深圳市斯尔顿科技有限公司
- 发明人:
- 代祥松,蔡守东,黄成
- 申请号：
- CN201010239896.0
- 公开号：
- CN101915547B
- 申请日:
- 2010.07.28
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明实施例公开了时域OCT测量的方法，包括：控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设在时域OCT系统中的样品进行测量；根据对样品的测量结果，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值；根据探测深度值测量得出被测物体的厚度值。相应地，本发明还公开了时域OCT系统。采用本发明，通过对预设在时域OCT系统中的样品进行自动的校准测量，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值，从而使探测深度值得到了校准，解决了现有技术中由于振镜系统工作的不稳定或工作时发热、环境温度的变化等使测量结果与实际结果产生偏差的问题，有效避免测量结果与实际结果产生的误差，提高时域OCT系统测量的准确度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
