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用于测量物体的光学特性的设备
专利权人:
威孚莱有限公司
发明人:
伯恩德特·沃姆,斯蒂芬·施密特,克劳迪娅·格舍博特,克里斯托夫·德尼茨基
申请号:
CN201180067695.X
公开号:
CN103415243A
申请日:
2011.02.15
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
一种用于测量物体(具体地,例如眼睛)的光学特性的设备包括用于检查由所述物体产生的波前像差的波前传感器和光学相干层析装置,使得所述物体的波前像差和结构能够被检查。为此,宽带激光器辐射源(12)被提供用于OCT。参考光束使用回射器(32)被产生,并且分束器(18)用作既用于波前确定又用于OCT的光学部件。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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