The x-ray imaging method includes providing a set of at least one training material comprising different materials and / or different thicknesses of the material or each material； Obtaining observed x-ray images of at least one training material with a pixelated detector； Building a database in the simulator of simulated scattering kernels for variable parameters in the simulator for each of the at least one training material； Generating a transfer function between the parameters of the simulator and the parameters of the observed image independent of the sample type and thickness； Generating an overall image scatter estimate； Predicting radiation directly for each scattering kernel； Applying the transfer function to scattering estimation and direct radiation or applying the inverse of the transfer function to observed intensity values； Performing calculation of Z-S-D <； threshold to provide scatter-free data and / or scatter-free image.x-선 이미징 방법은 상이한 재료들 및/또는 재료 또는 각각의 재료의 상이한 두께를 포함하는 적어도 하나의 트레이닝 재료의 세트를 제공하는 단계； 픽셀화된 검출기로 적어도 하나의 트레이닝 재료의 관찰된 x-선 이미지들을 얻는 단계； 적어도 하나의 트레이닝 재료 각각에 대해 시뮬레이터 내의 가변 파라미터들에 대한 시뮬레이팅된 산란 커널들의 시뮬레이터에 데이터베이스를 구축하는 단계； 시뮬레이터의 파라미터들과 샘플 유형 및 두께와 독립적인 관찰된 이미지의 파라미터들 사이의 전달 함수를 생성하는 단계； 전체 이미지 산란 추정을 생성하는 단계； 각각의 산란 커널에 대해 직접 방사선을 예측하는 단계； 전달 함수를 산란 추정 및 직접 방사선에 적용하거나 전달 함수의 역을 관찰된 강도 값들에 적용하는 단계； 산란이 없는 데이터 및/또는 산란이 없는 이미지를 제공하기 위하여 Z-S-D <； 임계값의 계산을 수행하는 단계를 포함한다.
