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スリットランプの検査装置、スリットランプの検査方法、及びプログラム
专利权人:
TOPCON CORP
发明人:
KUROSAWA HIROSHI,黒澤 洋
申请号:
JP2016055055
公开号:
JP2017164413A
申请日:
2016.03.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To perform various inspections of a slit lamp in an easy and highly-efficient way on the basis of certain standards.SOLUTION: A slit lamp inspection equipment 100 is provided that inspects whether a slit lamp 200 has desired optical properties regarding a selected inspection item. The slit lamp 200 includes: an observation optical system 220 for observing a target eye E and a slit optical system 210 for illuminating slit light onto the target eye. The slit lamp inspection equipment 100 includes: imaging means 110R, 110L that are placed on an eye piece 221R of the observation optical system and outputs observed image data of slit light from the slit optical system inspection reference data storage means 130 that stores inspection reference data to be used by each inspection item input means 170 for selecting an inspection item image processing means 120 for performing image processing on the observed image data measurement means 140 for comparing observed image data with the inspection reference data of the selected inspection item determination means 150 for determining pass or fail of the inspection item on the basis of an inspection result and output means 180 for outputting a determination result.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】一定の基準に基づくスリットランプの各種検査を簡単かつ高い効率で行う【解決手段】被検眼Eを観察する観察光学系220と、被検眼に向けてスリット光を照明するスリット光学系210とを備えるスリットランプ200が選択された検査項目において所望の光学特性を有しているかを検査するスリットランプの検査装置100である。観察光学系の接眼部221Rに配置され、スリット光学系からのスリット光の観察像画像データを出力する撮像手段110R、110Lと、各検査項目で使用する検査基準データを格納した検査基準データ格納手段130と、検査項目を選択する入力手段170と、観察像画像データを画像処理する画像処理手段120と、観察像画像データを選択した検査項目の検査基準データと比較する測定手段140と、検査結果から検査項目における合否を判定する判定手段150と、判定結果を出力する出力手段180とを備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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