GEIGER, Florian Benedikt,KÖRDEL, Martin,SCHICK, Anton
申请号：
ES14711176
公开号：
ES2638945T3
申请日:
2014.03.05
申请国别(地区):
ES
年份:
2017
代理人:
摘要：
Arrangement for infrared spectroscopy in attenuated total reflectance, comprising a light source (22), a detector (24), beam shaping components (28), a multiple reflection crystal (16) and a reflection matrix (1 ) with a plurality of reflection elements (2), where the reflection elements (2) are configured to guide a light beam (18) by total internal reflection, where an application surface (4) is convexly formed in a First partial zone (8) of the reflection elements (2) and the application surface (4) is oriented towards a specimen to be analyzed by spectroscopy (26), where the reflection elements (2) are arranged regularly in two directions mutually perpendicular (12, 14) of a surface (6), characterized in that the multiple reflection glass (16) is configured to drive the light beam (18) by total internal reflection multiple times to one of the reflex elements ion (2).Disposición para la espectroscopía infrarroja en reflectancia total atenuada, que comprende una fuente de luz (22), un detector (24), componentes de conformación de haces (28), un cristal de reflexión múltiple (16) y una matriz de reflexión (1) con una pluralidad de elementos de reflexión (2), donde los elementos de reflexión (2) están configurados para la guía de un haz luminoso (18) por reflexión interna total, donde una superficie de aplicación (4) se forma convexamente en una primera zona parcial (8) de los elementos de reflexión (2) y la superficie de aplicación (4) está orientada hacia una muestra a analizar por espectroscopía (26), donde los elementos de reflexión (2) se disponen regularmente en dos direcciones mutuamente perpendiculares (12, 14) de una superficie (6), caracterizada porque el cristal de reflexión múltiple (16) está configurado para conducir el haz luminoso (18) por reflexión interna total múltiples veces hacia uno de los elementos de reflexión (2).
