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Procedure for planning an investigation
专利权人:
Siemens Healthcare GmbH
发明人:
Daniel Fischer,Anna Jerebko
申请号:
DE102016210093
公开号:
DE102016210093A1
申请日:
2016.06.08
申请国别(地区):
DE
年份:
2017
代理人:
摘要:
Es wird ein Verfahren zur Planung einer Untersuchung eines Untersuchungsobjekts (O) mittels eines Tomosynthesegeräts (2) beschrieben, das folgende Schritte aufweist. In einem ersten Schritt werden Rohdaten (RD) des Untersuchungsobjekts (O) erfasst, welche aus definierten Akquisitionswinkeln akquiriert wurden. In einem zweiten Schritt wird ein Hilfsdatensatz aus den Rohdaten (RD) rekonstruiert. Folgend werden in einem dritten Schritt Tiefendaten auf Basis des Hilfsdatensatzes berechnet Berechnung eine Anzahl von Projektionen (P) aus Sicht eines jeweils definierten Projektionszentrums auf Basis des Hilfsdatensatzes oder auf Basis der Rohdaten (RD) berechnet. Dabei umfassen die Projektionen (P) jeweils eine Anzahl von Bildpunkten und jeder Bildpunkt ist mit den ihm zugeordneten Tiefendaten verknüpft. In Schritt vier werden die Projektionen (P) angezeigt, in Schritt fünf zumindest eine Projektion (P) ausgewählt. Darin wird in einem sechsten Schritt eine Position (M) eines Untersuchungsbereichs (B) des Untersuchungsobjekts (O) markiert. In einem siebten Schritt wird unter Verwendung der markierten Position (M) und deren Tiefendaten eine reale dreidimensionale Position des Untersuchungsbereiches (B) und vorzugsweise zusätzlich ein Untersuchungsweg (W) zum Untersuchungsbereich (B) berechnet. Die Erfindung gibt außerdem ein Verfahren zur Positionierung und ein Verfahren zur Dokumentation einer Untersuchung sowie ein Tomosynthesesystem (1) an.A method is described for planning an examination of an examination subject (O) by means of a tomosynthesis apparatus (2), which comprises the following steps. In a first step, raw data (RD) of the examination subject (O) which were acquired from defined acquisition angles are acquired. In a second step, an auxiliary data record is reconstructed from the raw data (RD). Subsequently, in a third step, depth data are calculated on the basis of the auxiliary data set. Calculation of a number of projections (P) from the perspective of a
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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