Die vorliegende Erfindung schlägt ein Verfahren vor zur Überprüfung von Lage- oder Positionsdaten eines Instrumentes (1) mit wenigstens einem ersten Abschnitt (5) mit wenigstens einem ersten Sensor (15a) und wenigstens einem zweiten Abschnitt mit wenigstens einem zweiten Sensor (11a). Das Verfahren umfasst ein messtechnisches Bestimmen der Lage oder Position, oder deren Veränderung, des ersten Sensors (15a) und des zweiten Sensors (11a), das Bestimmen eines veränderlichen Merkmals des räumlichen Bezugs zwischen der Lage oder Position des ersten Sensors (15a) und der Lage oder Position des zweiten Sensors (11a) wenigstens zu einem ersten Zeitpunkt (t1), zu einem zweiten Zeitpunkt (t2) und zu einem dritten Zeitpunkt (t3). Es umfasst ferner das Ermitteln anhand eines Kriteriums, ob ein Unterschied des veränderlichen Merkmals zwischen einer ersten Ausprägung zum ersten Zeitpunkt (t1) und einer zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt (t2) auch noch zum dritten Zeitpunkt (t3) besteht.The invention relates to a method for checking the position or position data of an instrument (1) with at least one first section (5) with at least one first sensor (15a) and at least one second section with at least one second sensor (11a). The method comprises determining the position or position, or its change, of the first sensor (15a) and the second sensor (11a), determining a variable feature of the spatial reference between the position or position of the first sensor (15a) and the measurement Position or position of the second sensor (11a) at least at a first time (t1), at a second time (t2) and at a third time (t3). It also includes determining on the basis of a criterion whether there is still a difference in the variable feature between a first characteristic at the first point in time (t1) and a second characteristic at the second point in time (t2) at the third point in time (t3).
