Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1, 1) zum Prüfen einer Verarbeitungselektronik (19), insbesondere eines Detektormoduls eines Computertomographen. Die Vorrichtung umfasst mindestens eine Verarbeitungszentrale (5), die im Betrieb Testabläufe definiert und/oder Ergebnisdaten (ED, EDa, EDb) aus den Testabläufen weiterarbeitet, eine mit der Verarbeitungszentrale (5) verbundene Ablaufeinheit (23), die im Betrieb nach einer Entgegennahme von Definitionen der Testabläufe aus der Verarbeitungszentrale (5) diese Testabläufe unabhängig durchführt und die mit einer Kontaktvorrichtung (21) zur Kontaktierung der Verarbeitungselektronik (19) gekoppelt ist, einen Signalgenerator (7), der Testsignale (TS) auf die Verarbeitungslogik (19) einleitet, und mindestens eine Triggereinheit (13, 13a, 13b), die im Betrieb in Echtzeit einen Beginn eines durch die Ablaufeinheit (23) durchgeführten Testablaufs und eine Einleitung der Testsignale (TS) durch den Signalgenerator (7) miteinander synchronisiert. Außerdem betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Prüfen einer derartigen Verarbeitungselektronik (19).the invention relates to a device (1, 1 ) for testing a verarbeitungselektronik (19), in particular a detektormoduls of computerized tomography. the device comprises at least one verarbeitungszentrale (5) in the operation of test sequences defined and \/ or data (ed, edaedbfrom the testabl\u00e4ufen continues to operate, with the verarbeitungszentrale (5) connected ablaufeinheit (23) which, in operation, after a collection of definitions of test sequences from the verarbeitungszentrale (5) independently performs the test sequences with a kontaktvorrichtung ( 21) for contacting the verarbeitungselektronik (19) is connected, a signal generator (7).the testsignale (ts) to the processing logic (19) and at least one triggereinheit (13, 13a, 13b) in the operation in real time, a start of the ablaufeinheit (23) carried out tests were conducted, and an introduction of the testsignale (ts) b
