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金属薄膜レジスタおよびプロセス
专利权人:
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社;テキサス インスツルメンツ インコーポレイテッド
发明人:
アッバス アリ,エリック ビーチ
申请号:
JP20160544067
公开号:
JP2017502522(A)
申请日:
2014.12.31
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
説明される実施例において、集積回路(100)が、上に被さるエッチング停止層(202)を有する金属薄膜レジスタ(112)を備えて形成される。例示的なプロセスにおいて、金属薄膜レジスタ(112)は、1つのリソグラフィ工程を追加することで集積回路(100)に形成される。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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