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Tomography system
专利权人:
興和株式会社
发明人:
小林 直樹
申请号:
JP2016531370
公开号:
JPWO2016002740A1
申请日:
2015.06.30
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
In the tomographic imaging apparatus of the present invention, the light from the light source 11 is divided into measurement light and reference light so as to be incident on the target object E and the reference object 49, and reflected by the measurement light reflected by the target object E and the reference object 49. The tomographic imaging apparatus captures a tomographic image of the target object E based on the interference light generated by superimposing the generated reference light. The measurement light is two-dimensionally scanned and incident on the target object E. And a second imaging mode in which the tomographic image of the target object E is captured by two-dimensional scanning of the measurement light and entering the target object E. The time required for the two-dimensional scanning in the second imaging mode is shorter than the time required for the two-dimensional scanning in the first imaging mode, and based on the tomographic image captured in the second imaging mode, the tomographic image is captured in the first imaging mode. After adjusting the imaging conditions necessary to perform the tomography, the tomographic image is captured in the first imaging mode.本発明の断層像撮影装置は、光源11からの光を測定光と参照光に分割して対象物体Eと参照物体49に入射させ、対象物体Eで反射された測定光と参照物体49で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体Eの断層像を撮影する断層像撮影装置であって、測定光を二次元走査して対象物体Eに入射させ、対象物体Eの断層像を撮影する第1撮影モードと、測定光二次元走査して対象物体Eに入射させ、対象物体Eの断層像を撮影する第2撮影モードとを備える。第2撮影モードにおける二次元走査に要する時間は第1撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、第2撮影モードで撮影された断層像に基づいて、第1撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、第1撮影モードで断層像の撮影が行われる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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