基于光栅的相位对比成像

• 收藏
• 分享

专利权人:

皇家飞利浦有限公司

发明人:

H·德尔,T·克勒

申请号：

CN201780069836.9

公开号：

CN109964118A

申请日:

2017.09.11

申请国别(地区):

CN

年份:

2019

代理人:

摘要：

提供了一种用于相位对比成像系统(100)的X射线探测器(10)和具有这种探测器(10)的相位对比成像系统(100)。X射线探测器(10)包括闪烁设备(12)和光探测器(14),所述光探测器具有光学耦合到所述闪烁设备(12)的多个光敏像素(15),其中,所述X射线探测器(10)包括平行于所述闪烁设备(12)的表面法向向量的主轴(16),并且其中,所述闪烁设备(12)包括具有多个凹槽(20)的晶片衬底(18),所述多个凹槽彼此间隔开。凹槽(20)中的每个沿着从所述闪烁设备(12)的第一侧(13)到所述晶片衬底(18)中的第一方向(21)延伸一深度(22),其中,凹槽(20)中的每个至少部分填充有闪烁材料。其中,所述多个凹槽(20)中的至少部分的第一方向(21)与所述主轴(16)不同,使得所述多个凹槽(20)中的至少部分相对于所述主轴(16)倾斜。布置在所述闪烁设备(12)的中心区域(24)中的凹槽(20)的第一方向(21)与所述主轴(16)之间的角度小于布置在所述闪烁设备(12)的外部区域(26)中的凹槽(20)的第一方向(21)与所述主轴(16)之间的角度。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/