Among other things, one or more techniques and/or systems are described for setting a sampling frequency for a radiation imaging system. The radiation imaging system comprises a rotating gantry configured to rotate a radiation source and a detector array about an object to generate an image(s) of the object. A data acquisition system is configured to sample the detector array as views. One or more flag structures are arranged according to a partial arc segment (e.g., a structure less than a full 360 degree circle). One or more sensors are disposed on one of the rotating gantry or a stationary support about which the rotating gantry rotates. When a sensor encounters a flag structure, a current rotational speed of the rotating gantry is determined. A clock frequency is updated based upon the current rotational speed to establish a sampling frequency for the data acquisition system for sampling the detector array.L'invention concerne entre autres une ou plusieurs techniques et/ou systèmes destinés à définir une fréquence d'échantillonnage destinée à un système d'imagerie par rayonnement. Le système d'imagerie par rayonnement comprend un portique rotatif configuré pour faire tourner une source de rayonnement et un réseau de détecteurs autour d'un objet pour générer une ou plusieurs images de l'objet. Un système d'acquisition de données est configuré pour échantillonner le réseau de détecteurs sous forme de vues. Une ou plusieurs structures d'indicateur sont agencées selon un segment d'arc partiel (par exemple, une structure inférieure à un cercle complet de 360 degrés). Un ou plusieurs capteurs sont disposés sur le portique rotatif ou sur un support fixe autour duquel tourne le portique rotatif. Lorsqu'un capteur rencontre une structure d'indicateur, une vitesse de rotation actuelle du portique rotatif est déterminée. Une fréquence d'horloge est mise à jour sur la base de la vitesse de rotation actuelle pour établir une fréquence d'échantillonnage destinée au système d'
