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辐照设备和控制其的控制方法
专利权人:
GSI重离子研究亥姆霍茨中心有限公司
发明人:
C·贝尔特,E·里策尔
申请号:
CN201280015330.7
公开号:
CN103458966A
申请日:
2012.04.20
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明涉及一种辐照设备,包括具有粒子加速器的加速器装置,借助粒子加速器可加速粒子并且可产生粒子束,该粒子束具有射束强度;用于测量所提取的粒子束射束质量的射束监控装置,该射束监控装置具有多个可设置的测量范围;用于控制加速器装置和射束监控装置的控制装置,其中,射束监控装置的测量范围可根据粒子束的射束强度和/或待施加的粒子数被设置。在用于控制辐照设备的控制方法中,产生具有射束强度的粒子束;借助射束监控装置监控粒子束的射束质量,从多个可设置的测量范围中选择一个测量范围,其中,根据粒子束的射束强度和/或根据待施加的粒子数设置射束监控装置的测量范围。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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