Systems and methods for determining one or more target examination parameters are provided. The methods may include obtaining target examination information of a subject and generating one or more initial examination parameters based on the target examination information. The methods may further include obtaining one or more historical examination parameters associated with the subject and updating at least one of the one or more initial examination parameters based on the one or more historical examination parameters to obtain one or more target examination parameters. The one or more target examination parameters may be used for performing a target examination on the subject.La présente invention concerne des systèmes et des procédés permettant de déterminer un ou plusieurs paramètres d'examen. Les procédés peuvent consister à obtenir des informations d'examen cible d'un sujet et à générer un ou plusieurs paramètres d'examen initiaux sur la base des informations d'examen cible. Les procédés peuvent en outre comprendre l'obtention d'un ou plusieurs paramètres d'examen historiques associés au sujet et la mise à jour d'au moins un paramètre parmi le ou les paramètres d'examen initiaux sur la base du ou des paramètres d'examen historiques pour obtenir un ou plusieurs paramètres d'examen cible. Le ou les paramètres d'examen cible peuvent être utilisés pour effectuer un examen cible sur le sujet.
