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EVOKED POTENTIAL MEASURING APPARATUS
专利权人:
日本光電工業株式会社;NIPPON KODEN CORP
发明人:
HYODO AKIRA,兵頭 亮
申请号:
JP2016035795
公开号:
JP2017148404A
申请日:
2016.02.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a burden of a subject person and yet, perform highly precise measurement in evoked potential measurement using an arithmetic mean method.SOLUTION: An evoked potential acquisition part 11 acquires a plurality of evoked potential waveforms from a subject person 2 as a response to stimulation. A mean processing part 12 acquires a mean waveform by arithmetically averaging the plurality of evoked potential waveforms. Each time acquiring a waveform set consisting of N number (N is two or more) of evoked potential waveforms, a first dispersion value calculation part 14 calculates a dispersion value related to the waveform set. An update processing part 15 updates the mean waveform by excluding a waveform set whose dispersion value exceeds a threshold, from the arithmetic mean.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】加算平均法を用いる誘発電位測定において、被検者の負担軽減を図るとともに、精度の良い測定を行なう。【解決手段】誘発電位取得部11は、刺激に対する応答として被検者2から複数の誘発電位波形を取得する。平均処理部12は、複数の誘発電位波形を加算平均して平均波形を取得する。第一分散値算出部14は、N個(Nは2以上)の誘発電位波形からなる波形セットが得られる度に、当該波形セットに係る分散値を算出する。更新処理部15は、分散値が閾値を超えている波形セットを加算平均から除くように平均波形を更新する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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