A system and method for generating phase image data by using the same detector to simultaneously operate in two different modes to simultaneously obtain first and second x-ray image data with different spectral weightings. The first and second x-ray image data respectively include first and second pixel-wise measurement signal values. The detector is configured to obtain the first x-ray image data in a first measurement mode and obtain the second x-ray image data in a second measurement mode different from the first measurement mode for generating the phase image data. The generated phase image data includes pixel-wise phase values from the first and second x-ray image data and is determined by determining a phase value at a pixel from a first measurement signal value obtained in the first measurement mode at the pixel, and from a second measurement signal value obtained in the second measurement mode at the pixel.L'invention se rapporte à la génération des données d'image de phase (38), dans laquelle les premières données d'image par rayons X (28a) comprenant les premières valeurs de signal de mesure à l'échelle du pixel (30a) et les deuxièmes données d'image par rayons X (28b) comprenant les deuxièmes valeurs de signal de mesure à l'échelle du pixel (30b) sont reçues. Les premières données d'image par rayons X (28a) sont obtenues dans un premier mode de mesure et les deuxièmes données d'image par rayons X (28b) sont obtenues dans un deuxième mode de mesure différent du premier mode de mesure. Les données d'image de phase (38) comprenant les valeurs de phase à l'échelle du pixel (34) provenant des premières et deuxièmes données d'image par rayons X (28a, 28bis) sont déterminées en déterminant une valeur de phase (34) à un pixel (31) à partir d'une première valeur de signal de mesure (30a) obtenue dans un premier mode de mesure au niveau du pixel (31) et d'une deuxième valeur de signal de mesure (30b) obtenue dans un deuxième mode de mesure au niveau du pixel (31).
