In generating phase image data 38 first x-ray image data 28a comprising first pixel-wise measurement signal values 30a and second x-ray image data 28b comprising second pixel-wise measurement signal values30bare received. The first x-ray image data28awas obtained in a first measurement mode and the second x-ray image data28b was obtained in a second measurement mode different from the first measurement mode. Phase image data 38 comprising pixel-wise phase values 34 from the first and second x-ray image data 28a, 28bis determined by determining a phase value 34 at a pixel 31 from a first measurement signal value 30a obtained in a first measurement mode at the pixel 31 and a second measurement signal value 30b obtained in a second measurement mode at the pixel 31.L'invention se rapporte à la génération des données d'image de phase (38), dans laquelle les premières données d'image par rayons X (28a) comprenant les premières valeurs de signal de mesure à l'échelle du pixel (30a) et les deuxièmes données d'image par rayons X (28b) comprenant les deuxièmes valeurs de signal de mesure à l'échelle du pixel (30b) sont reçues. Les premières données d'image par rayons X (28a) sont obtenues dans un premier mode de mesure et les deuxièmes données d'image par rayons X (28b) sont obtenues dans un deuxième mode de mesure différent du premier mode de mesure. Les données d'image de phase (38) comprenant les valeurs de phase à l'échelle du pixel (34) provenant des premières et deuxièmes données d'image par rayons X (28a, 28bis) sont déterminées en déterminant une valeur de phase (34) à un pixel (31) à partir d'une première valeur de signal de mesure (30a) obtenue dans un premier mode de mesure au niveau du pixel (31) et d'une deuxième valeur de signal de mesure (30b) obtenue dans un deuxième mode de mesure au niveau du pixel (31).
