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基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法
- 专利权人:
- 广州市怡文环境科技股份有限公司
- 发明人:
- 石平,徐剑飞
- 申请号：
- CN201610814665.5
- 公开号：
- CN106248710A
- 申请日:
- 2016.09.09
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 万志香
- 摘要：
- 本发明涉及一种基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法，包括如下步骤：获取待测样品，于所述待测样品中加入溶剂制成待测样品溶液；于所述待测样品溶液中加入内标液，得待测液；所述内标液包括浓度为50～150mg/L的钇元素；将所述待测液滴加至载样片上，干燥成膜，然后利用全反射X射线荧光光谱仪进行检测，即可。上述元素检测方法，利用TXRF作为检测方法的同时，将包含一定浓度钇元素的溶液以内标液的形式加入待测样品溶液中，由此校正被测元素的峰面积变化，经过修正算法，可以给TXRF仪的测试带来良好的线性度，相应的也可以消除环境因素的干扰，使最终测试结果的精确度大大提升，尤其适用于土壤或污水中痕量元素的检测。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
