基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法
- 专利权人:
- 北京奥意尔工程技术有限公司
- 发明人:
- 冯国民,何华,姬月凤,魏超峰,李小龙
- 申请号：
- CN201510385538.3
- 公开号：
- CN105044140A
- 申请日:
- 2015.06.30
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 李广
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，包括以下步骤：步骤1：利用主量元素进行岩性定名；步骤2：通过微量元素确定元素标志层；步骤3：对标志层上、下的泥岩进行数据分析；步骤4：通过图版进行判别；该方法主要用于塔里木盆地库车坳陷古近系库姆格列木群的膏盐岩底部界面的卡取，降低膏盐岩层钻进的风险，保证钻井安全钻开油气层，实现地质目的具有举足轻重的作用，属于石油勘探的地质研究领域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
