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X射线荧光分析用高频感应熔样机
专利权人:
国家地质实验测试中心
发明人:
邓赛文,梁国立
申请号:
CN200420001099.9
公开号:
CN2695943Y
申请日:
2004.01.15
申请国别(地区):
中国
年份:
2005
代理人:
摘要:
一种X射线荧光分析用的自动成形高频感应熔样机。由高频感应发生器、温度/程序控制器、温度校准、摇动/自旋机构、时序控制电路、高频感应工作头等部分组成。实现了制样过程的全自动微机控制,操作简便,安全。针对不同的样品可预设定多达12种类型的熔融制样方式。可同时摇动与自旋,熔融体形成涡流,制样更均匀。可用于将盛放于铂-金合金坩埚中的岩石、土壤、矿物、矿石、煤灰、炉渣等物料与熔剂混合物进行自动升温预氧化—升温熔融—混合均匀—成形—冷却—自动剥离,最后制成适合于X射线荧光分析用的玻璃状圆片。预氧化温度在600-800℃可调,熔融温度在1000-1300℃可调。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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