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断層画像撮影装置、および断層画像撮影プログラム
专利权人:
株式会社ニデック
发明人:
久野 雄貴
申请号:
JP2017040675
公开号:
JP2018143429A
申请日:
2017.03.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to obtain the tomogram image of an object efficiently.Solution: a tomographic imaging apparatus having a probe outer tube inserted into the subject, an optical fiber, a light shielding member having an opening, and a deflecting portion for deflecting the light from the optical fiber on the subject through an opening of the light blocking member The probe mounting part to which the probe is mounted and the light emitted from the light source are divided into the measurement light and the reference light by the dividing means, and the measurement light is guided to the tissue of the subject subject through the probe, and the reference light is guided to the reference optical system, and the reflection reflected in the tissue of the subject is measuredAn interference optical system for detecting an interference state between a fixed light and a reference light by a detector, an image generating means for generating a tomographic image based on a signal from the detector, and an image processing means for processing a tomographic image generated by the tomographic image generating means. The image processing means is characterized in that an opening portion of a shading member is detected from a tomographic image by a template matching process.Diagram【課題】 被検体の断層画像を効率的に取得する。【解決手段】 断層画像撮影装置であって、被検体内に挿入されるプローブ外筒と、光ファイバと、開口部を有する遮光部材と、遮光部材の開口部を介して被検体上で光ファイバからの測定光を偏向する偏向部と、を有するプローブを装着するプローブ装着部と、光源から出射された光を分割手段によって測定光と参照光とに分割し、プローブを介して測定光を被検体の組織に導き、参照光を参照光学系に導いた後、被検体の組織で反射した測定光と参照光との干渉状態を検出器によって検出する干渉光学系と、検出器からの信号に基づいて断層画像を生成する画像生成手段と、断層画像生成手段によって生成される断層画像を処理する画像処理手段と、を備え、画像処理手段は、テンプレートマッチング処理によって断層画像から遮光部材の開口部を検出することを特徴とする。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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