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断層画像撮影装置、および断層画像撮影プログラム
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
KUNO YUKI,久野 雄貴
申请号:
JP2017072202
公开号:
JP2018173366A
申请日:
2017.03.31
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tomographic image capturing device and a tomographic image capturing program with which it is possible to obtain a high quality tomographic image.SOLUTION: Provided is a tomographic image capturing device for capturing the tomographic image of a specimen, comprising: an interference optical system for dividing the light emitted from a light source into measurement light and reference light, scanning the tissue of the specimen with measurement light by scanning means and guiding reference light to a reference optical system, and then acquiring an interference state of the measurement light reflected at the tissue of the specimen and the reference light by a detector image generation means for generating a tomographic image on the basis of a plurality of A scan data acquired by the interference optical system and determination means for performing a process of determining, in one tomographic image generated by the image generation means, whether or not the A scan data P1-P17 are similar to each other.SELECTED DRAWING: Figure 6COPYRIGHT: (C)2019,JPO&INPIT【課題】良質な断層画像を得ることができる断層画像撮影装置、および断層画像撮影プログラムを提供する。【解決手段】被検体の断層画像を撮影する断層画像撮影装置であって、光源から出射された光を分割手段によって測定光と参照光とに分割し、走査手段によって測定光を被検体の組織に走査し、参照光を参照光学系に導いた後、被検体の組織で反射した測定光と参照光との干渉状態を検出器によって取得する干渉光学系と、干渉光学系によって取得された複数のAスキャンデータに基づいて断層画像を生成する画像生成手段と、画像生成手段によって生成された1枚の断層画像において、各AスキャンデータP1~P17が互いに類似するか否か判定処理を行う判定手段と、を備える。【選択図】図6
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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