CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TEST SYSTEM USING THE SAME

• 收藏
• 分享

专利权人:

한용국

发明人:

한용국

申请号：

KR20160156829

公开号：

KR101698196(B1)

申请日:

2016.11.23

申请国别(地区):

韩国

年份:

2017

代理人:

摘要：

본 발명의 일 실시예는 회로카드 시험기기 및 이를 이용한 회로카드 시험 시스템에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 통신용 700W 발전기용 전압조절기 회로카드를 수리 및 교환했을 때 점검 및 검사하기 위한 회로카드 시험기기 및 이를 이용한 회로카드 시험 시스템을 제공하고자 하는데 있다. 이를 위해 본 발명의 일 실시예는 전압조절기 회로카드의 시험기기로서, 전원이 입력되는 입력 전원부; 상기 입력된 전원을 이용하여 상기 시험기기의 동작을 온오프시키는 운전 스위치부; 상기 전압조절기 회로카드에 각각 구비된 제1 및 제2 회로카드 슬롯부; 상기 제1 및 제2 회로카드 슬롯부에 각각 끼워지는 제1 및 제2 시험 슬롯부; 상기 전압조절기 회로카드의 출력을 온오프시키는 출력 스위치부; 및 상기 입력 전원부, 운전 스위치부 및 출력 스위치부의 동작에

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/