DONGGUK UNIVERSITY INDUSTRY-ACADEMIC COOPERATION FOUNDATION;동국대학교 산학협력단
发明人:
LIM SOO CHUL,임수철,KO DAE KWAN,고대관
申请号：
KR1020180138258
公开号：
KR1020200055203A
申请日:
2018.11.12
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要：
Disclosed are a two-point identification inspection apparatus and a method thereof. According to the present invention, the two-point identification inspection apparatus may comprise: a first pin contacting the skin of a user； a second pin contacting the skin of the user at a position spaced apart from the first pin； an interval adjusting unit adjusting an interval between the first pin and the second pin according to two-point discrimination； a pin adjusting unit which adjusts the length of the first pin or the second pin according to the curvature of the skin of the user； and a header driving unit which moves the first pin and the second pin whose space is adjusted in the direction in which the skin of the user is located to provide a two-point pressure to the user.COPYRIGHT KIPO 20202점 식별 검사 장치 및 그 방법이 개시된다. 2점 식별 검사 장치는, 사용자의 피부에 접촉하는 제1 핀； 상기 제1 핀에서 이격된 위치에서 상기 사용자의 피부에 접촉하는 제2 핀； 2점 식별(two-point discrimination)에 따라 상기 제1 핀과 상기 제2 핀 간의 간격을 조정하는 간격 조정부； 상기 사용자의 피부의 굴곡에 따라 상기 제1 핀, 또는 상기 제2 핀의 길이를 조정하는 핀 조정부； 및 간격이 조정된 상기 제1 핀 및 상기 제2 핀을 상기 사용자의 피부가 위치한 방향으로 이동시켜 사용자에게 2점 압력을 제공하는 헤더 구동부를 포함할 수 있다.
