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データ照合装置、設計データ修正装置、形状測定装置、データ照合方法、およびプログラム
- 专利权人:
- セイコーエプソン株式会社
- 发明人:
- 長橋 敏則
- 申请号：
- JP20150153939
- 公开号：
- JP2017033374(A)
- 申请日:
- 2015.08.04
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】ＩＣＰ法を用いて照合対象データを基準データと照合する処理において、局所解に陥ることなく最適解を求めること。【解決手段】ＩＣＰ法を用いて基準データに対する照合対象データの誤差が最小になるように演算して第１解（誤差値ｄ１）を求め、第１解に対応する第１並進量および第１回転量の少なくとも一方を算出する第１演算部と、第１演算部により第１解が求められた後に、第１並進量とは異なる第２並進量および第１回転量とは異なる第２回転量の少なくとも１方を用いて演算を継続し、第１解における誤差よりも小さい誤差となる第２解（誤差値ｄ２）を求める第２演算部と、を備えることを特徴とするデータ照合装置を提供すること。【選択図】図４
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
