磁场测量方法以及磁场测量装置
- 专利权人:
- 精工爱普生株式会社
- 发明人:
- 长坂公夫,宫坂光敏,高桥智
- 申请号：
- CN201510854835.8
- 公开号：
- CN105652223B
- 申请日:
- 2015.30.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供磁场测量方法。在光泵浦式的磁测量中,能够在探测光为一个方向的同时,测量多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中,光源(18)针对气室(12),向Z轴方向照射兼为泵浦光和探测光的直线偏振光,磁场产生器(8)针对气室(12),分别向X、Y轴方向施加相同周期并且相位不同的交变磁场。运算控制部(30)使用交变磁场的X、Y轴方向成分Ax、Ay、以及相当于磁传感器(10)的测量值W‑的自旋极化度Mx,计算测量区域的磁场C(Cx、Cy、Cz)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
