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脑测量装置和脑测量方法
- 专利权人:
- 浜松光子学株式会社;国立大学法人京都大学
- 发明人:
- 须山本比吕,森谷隆广,齐藤右典,笈田武范,小林哲生
- 申请号：
- CN202110661667.6
- 公开号：
- CN113805122A
- 申请日:
- 2021.06.15
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 脑测量装置(M1)具备：脑磁计，具有：光激发磁传感器(1A)、测量光激发磁传感器(1A)的位置的地磁的磁传感器(2)、测量光激发磁传感器(1A)的位置的变化磁场的磁传感器(3)、用于修正地磁的修正线圈(7、8)，以及用于修正变化磁场的主动屏蔽线圈(9)；MRI装置，具有：用于施加静磁场和倾斜磁场的修正磁线圈(7、8)、发送发送脉冲的发送线圈(21)，以及检测核磁共振信号的接收线圈(22)；以及控制装置(5)，其在脑磁场的测量时，基于磁传感器(2、3)的测量值，来控制供给至修正线圈(7、8)以及主动屏蔽线圈(9)的电流，在MR图像的测量时，控制供给至修正线圈(7、8)的电流，并且控制静磁场和倾斜磁场，并且从接收线圈(22)的输出而生MR图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
